Tytuł.:

Cross-Reference of Surface Analytical Techniques

Wariant tytułu:

CHP - Surface Analizys ; CHP

Autor:

Tissue, Brian M.

Wydawca:

Virginia Tech

Data:

cop. 2000

Data dostępu:

2011

Abstrakt:

Strona zawiera opisy technik analitycznych, które mogą w sposób selektywny charakteryzować powierzchnię ciał stałych. Metody te są podzielone na dwie kategorie: techniki, które są wykorzystywane przede wszystkim do analizy elementarnej na powierzchni (spektroskopia elektronów Augera (AES), spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS), spektroskopii fotoelektronów rentgenowskich (XPS), spektroskopii Ramana, spektroskopii w podczerwieni z transformacją Fouriera (FTIR)) oraz technik używanych głównie do obrazowania powierzchni: AFM, EXAFS,LEED, RHEED i NFOM, skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM), skaningowej mikroskopii tunelowej (STM)). Strona jest częścią projektu Chemistry Hypermedia z Wydziału Chemii, Virginia Tech w USA.

komentarz:

Prezentowany opis stanowi element sporządzonej na podstawie analizy krajowych i zagranicznych zasobów cyfrowych bazy wiedzy rejestrującej internetowe źródła informacji z zakresu nauk przyrodniczo-matematycznych. Został przygotowany przez pracowników Instytutu Informacji Naukowej i Bibliotekoznawstwa Uniwersytetu Jagiellońskiego w ramach projektu Synat. Treść publikacji stanowi odnośnik do opisanego zasobu (ten sam odnośnik znajduje się w polu Źródło). Całą bazę można przeglądać, wybierając w lewym panelu nawigacyjnym kolekcję tematyczną „Baza zasobów cyfrowych z zakresu nauk przyrodniczo-matematycznych”.

Źródło:

kliknij tutaj, żeby przejść

Identyfikator dokumentu cyfrowego:

DIGONLINE003268

Temat i słowa kluczowe:

chemia ; techniki analityczne ; tutoriale

Język:

eng

KBN:

Nauki chemiczne

UKD:

54 Chemia. Krystalografia. Mineralogia

Format:

text/html

Źródło finansowania:

Synat